Kursinformation

Die vorlesung vermittelt die Grundlagen der Rasterelektronen- und Ionenmikroskopie. Insbesondere die Abbildungsmodie des Rasterelektronenmikroskops, als auch die zur Verfügung stehenden spektroskopischen Messtechniken und Beugungsmethoden werden erörtert und mit Beispielen aus der modernen Materialforschung untermalt.