Die vorlesung vermittelt die Grundlagen der Rasterelektronen- und Ionenmikroskopie. Insbesondere die Abbildungsmodie des Rasterelektronenmikroskops, als auch die zur Verfügung stehenden spektroskopischen Messtechniken und Beugungsmethoden werden erörtert und mit Beispielen aus der modernen Materialforschung untermalt.
- Dozent/in: Benjamin Butz
- Dozent/in: Christian Wiktor
Semester: SoSe 2020