Die Transmissionselektronenmikroskopie ist eine der vielseitigsten Charakterisierungmethoden. Hohe Auflösungen erlauben es atomare Strukturen direkt abzubilden, die elastische Streuung der verwendeten hochenergetischen Elektronen erlaubt die Kristallstrukturanalyse kleinster Partikel und die inelastische Streuung eröffnet die Möglichkeit detaillierter chemischer Untersuchungen, bis hin zur Aufklärung von Oxidationsstufen und Bindungszuständen.

In dieser Einführungsveranstaltung verden zunächst die Grundlagen der Elektronenoptik erklärt, um dann die klassischen Abbidungs- und Beugungsmethodenmethoden herzuleiten und mit Beispielen aus der modernen Materialwissenschaft zu illustrieren. Zusätzlich werden an gegebener Stelle auch praktische Erfahrungen und Erwägungen geteilt. In der Folgeveranstaltung liegt der Fokus auf fortgeschrittenen abbildenden, als auch spektroskopischen Methoden.

Der Kurs erbindet Grundlagen der Quantenmechanik, Elektronenoptik und Materialwissenschaft und vermittelt so nicht nur den physikalischen Hintergrund der Messtechnik sonder schärft auch das Verständnis der mikrostrukturellen Welt, die uns täglich unsichtbar umgibt.

Semester: SoSe 2020